與所有其他電子元件部件一樣，電容器在遇到非設(shè)計(jì)或制造電容器的環(huán)境或操作條件時(shí)可能會(huì)發(fā)生故障。設(shè)計(jì)人員必須清楚地了解單元中內(nèi)置的安全系數(shù)、他自己添加的安全系數(shù)以及電路和環(huán)境條件對(duì)參數(shù)的眾多影響。僅知道電容和額定電壓是不夠的。了解電容隨環(huán)境變化的程度很重要；電容的內(nèi)阻是多少隨溫度、電流、電壓或頻率而變化；所有這些因素對(duì)絕緣電阻、擊穿電壓和其他基本電容器特性的影響，這些對(duì)電路不是必不可少的，但總是伴隨著必要的電容。

　1.電流過載

　瞬態(tài)浪涌是由于開關(guān)操作、相關(guān)電路或組件在足夠長的持續(xù)時(shí)間和幅度下發(fā)生故障而產(chǎn)生的介電故障、電容的永久變化和密封失效。

　2.電壓過載

　由于預(yù)熱程序不充分、開關(guān)和負(fù)載突然丟失而導(dǎo)致的超過電容器額定值的電壓瞬變可能導(dǎo)致內(nèi)部電暈、電介質(zhì)擊穿以及由于電介質(zhì)內(nèi)的高電壓梯度而降低絕緣電阻。在需要最大可靠性的情況下，最高d-c電平加上要施加的峰值a-c幅度電壓之和不得超過電容器的工作電壓額定值。為安全起見，除電解電容器外，所有類型電容器的額定工作電壓應(yīng)至少比這些電壓的預(yù)期總和高20%。

　3.頻率效應(yīng)

　應(yīng)該知道頻率對(duì)電容器工作特性的影響，特別是最大額定電流與頻率之間的關(guān)系。以高于其設(shè)計(jì)頻率的頻率運(yùn)行電容器將導(dǎo)致運(yùn)行不良和過熱。當(dāng)施加這些頻率的脈沖時(shí)，未設(shè)計(jì)為在UHF下工作的電容器可能會(huì)擊穿。

　由于某些類型電容器的固有電感，如果要確保最大旁路效應(yīng)，最好將一個(gè)大電容器與一個(gè)小電容器分流，在環(huán)路或交叉配置中使用盡可能短的引線。

　4.高溫

　過熱是降低電容器可靠性的主要因素之一。無論是由于上述條件、高環(huán)境溫度還是高功率因素導(dǎo)致的，過高的工作溫度都會(huì)導(dǎo)致高故障率、加速電容漂移、降低介電強(qiáng)度、降低電暈水平、降低絕緣電阻和縮短壽命。表面溫度每升高10-C，降低一半）。極性型電容器通常具有高功率因數(shù)，因此會(huì)產(chǎn)生自生內(nèi)部熱量。高溫下絕緣電阻降低會(huì)導(dǎo)致更大的泄漏電流，溫度逐漸升高，絕緣電阻進(jìn)一步降低，最終導(dǎo)致電容器損壞。密封，特別是軟焊型，

　5.壓力

　由于電容與板之間的有效距離成反比，因此非剛性電容器容器上的任何明顯壓力變化都可能產(chǎn)生電容變化。壓力變化是由于卡箍緊固件不良、高度快速變化還是其他因素造成的，這無關(guān)緊要；最終結(jié)果是一樣的。快速的氣壓變化可能是密封失效的原因，從而導(dǎo)致電容器元件暴露在環(huán)境條件下。高夾緊壓力也可能導(dǎo)致外殼變形和最終的密封失效。

　6.濕度

　除了引起外部腐蝕和真菌生長外，水分還會(huì)降低介電強(qiáng)度和介電常數(shù)，降低絕緣電阻，并導(dǎo)致高于正常的漏電流；最終結(jié)果是降低了電壓擊穿和更高的內(nèi)部溫度。幾種常用的電容器材料（紙、蠟和其他浸漬劑）是真菌營養(yǎng)素。為了在潮濕條件下獲得最大可靠性，使用密封電容器絕對(duì)是有利的。

　7.危險(xiǎn)事項(xiàng)

　高壓充電電容器的危害問題是一個(gè)嚴(yán)重的問題。在處理電容器之前或在對(duì)具有充電電容器的電路或設(shè)備進(jìn)行任何工作之前，電容器應(yīng)始終完全放電。用螺絲刀短接電容器的做法不僅從操作者的角度來看是危險(xiǎn)的，而且由于高放電電流很可能會(huì)損壞電容器。此外，很可能發(fā)生介電擊穿。

　電容器充放電需要時(shí)間，為了安全起見，放電應(yīng)緩慢進(jìn)行。在電荷上抵抗極化的電介質(zhì)也在放電過程中抵抗去極化。單次使用螺絲刀或其他短路方式不足以完全釋放此類單元中存儲(chǔ)的能量。安全實(shí)踐表明使用高功率低電阻短路棒，應(yīng)多次使用，直到確定單元中沒有能量。